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Erweiterungspaket Materialanalyse, für compact AFM
Funktion und Verwendung Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.
CHF 3’466.35
Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation, für compact AFM
Funktion und Verwendung Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.
CHF 6’423.90
PHYWE Compact AFM, Rasterkraftmikroskop
Funktion und Verwendung Kompaktes und einfach zu bedienendes Rasterkraftmikroskop zur Abbildung beliebiger Mikro- und Nanostrukturen. Entwickelt für den Einsatz in der Lehre, im Praktikum, sowie in der Forschungsvorbereitung in Physik, Chemie, Lebenswissenschaften und Ingenieurwissenschaften. Vorteile • Kompaktes "all-in-one" Gerät: einfach zu bedienen, einfach zu transportieren • Komplettlösung: Gerät + Proben + Sonden + Werkzeug + Versuchsbeschreibungen • Automatische Annäherung der Sonden an die Probe zur Vermeidung der Beschädigung von Sonde und Probe • Proben einfach einzusetzen und zu wechseln • Keine Anpassung des Lasers erforderlich • Forschungsnahes Gerät zu einem Drittel des Preises eines Forschungsgeräts
CHF 55’261.65