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Erweiterungspaket Materialanalyse, für compact AFM
Artikelnummer: 09701-00
CHF 3’466.35
inkl. MwSt. CHF 3’747.10
Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.
• Software Paket / Aktivierungsschlüssel für:
• Leitfähigkeitsmessungen
• Spreading Resistance
• Force Modulation
• Strom-Spannung-Spektroskopie
• Set aus 3 Proben:
• Probe für MFM (Magnetic Force Microscopy) - Digital Data Storage (DDS) Tape
• Probe für Spreading Resistance - Graphit (HOPG)
• Probe für Phasenkontrast - PS/PMMA Filme
• Set aus 8 Cantilevern:
• 4 x Multi75E-G (leitfähig beschichtet mit Pt/Cr, Dynamic Force Modus) für Force Modulation, EFM und Spreading Resistance, Leitfähigkeitsmessungen
• 4 x MFMR (magnetisch beschichtet coating, Dynamic Force Mode) für MFM
• die Bedienungsanleitung und erste Experimente finden sich im Handbuch, welches dem AFM beiliegt bzw. sind über das Help Panel im Softwarepaket measure nano als pdf verlinkt
◦ die PS/PMMA Probe kann auch für Kraftsprektroskopie und Manipulation/Lithographie (Scratching) verwendet werden (siehe AFM 09700-99 bzw Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation (09702-00))
◦ Beschreibungen in englischer Sprache
- 0970100a e pdf Herunterladen
- 00277 01 afm deutsch pdf Herunterladen
- 00277 02 afm englisch pdf Herunterladen
- 09701 00 jpg Herunterladen
Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.
• Software Paket / Aktivierungsschlüssel für:
• Leitfähigkeitsmessungen
• Spreading Resistance
• Force Modulation
• Strom-Spannung-Spektroskopie
• Set aus 3 Proben:
• Probe für MFM (Magnetic Force Microscopy) - Digital Data Storage (DDS) Tape
• Probe für Spreading Resistance - Graphit (HOPG)
• Probe für Phasenkontrast - PS/PMMA Filme
• Set aus 8 Cantilevern:
• 4 x Multi75E-G (leitfähig beschichtet mit Pt/Cr, Dynamic Force Modus) für Force Modulation, EFM und Spreading Resistance, Leitfähigkeitsmessungen
• 4 x MFMR (magnetisch beschichtet coating, Dynamic Force Mode) für MFM
• die Bedienungsanleitung und erste Experimente finden sich im Handbuch, welches dem AFM beiliegt bzw. sind über das Help Panel im Softwarepaket measure nano als pdf verlinkt
◦ die PS/PMMA Probe kann auch für Kraftsprektroskopie und Manipulation/Lithographie (Scratching) verwendet werden (siehe AFM 09700-99 bzw Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation (09702-00))
◦ Beschreibungen in englischer Sprache
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