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Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation, für compact AFM
Artikelnummer: 09702-00
CHF 6’423.90
inkl. MwSt. CHF 6’944.25
Funktion und Verwendung
Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.
Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.
Ausstattung und technische Daten
• Software-Paket / Aktivierungssschlüssel für:
• Strom-Abstands-Spektroskopie
• Fortgeschrittene Spectroscopie (z.B. Spektroskopiekurven mit max. 1024 points, Stop bei spezif. Endwert, Pause vor und nach der Messung, etc.)
• Lithografie (Strukturen schreiben (Scratching, Oxidation, ...) auf Basis von Vektor- und Bitmap-Grafiken)
• Manipulation (Oxidation, Zerschneiden von Nanopartikel, Bewegen und Anordnen von Nanopartikeln)
• Erweiterung mit Nutzerschnittstelle zum Scripting (AFM kann extern angesteuert werden durch z.B. Visual Basic, Lab View, etc.)
• Set von 2 Proben:
• Probe für Scratching- CD-ROM Stück
• Probe für Manipulation - Glas Nanopartikell (incl. Silica Kolloid)
• Set von 8 Cantilevern:
• 4 x 190TapAl G (Dynamic Force Mode) für Spektroskopie und Manipulation
• 4 x CONTR (Static Force Mode) für Lithografie und Manipualtion
• Beschreibung zur Präparation und Abbildung von Glas Nanopartikeln
• Die Beschreibung zur Lithografie, Manipulation und Nutzerschnittstelle finden sich in der Bedienungsanleitung des AFM (in gedruckter Form als Teil des Gerätes bzw als pdf verlinkt im Software-Paket measure nano (Help Panel). Zusätzlich ist eine separate Beschreibung zum Scripting als pdf verlinkt.
• Beschreibungen in englischer Sprache
• Software-Paket / Aktivierungssschlüssel für:
• Strom-Abstands-Spektroskopie
• Fortgeschrittene Spectroscopie (z.B. Spektroskopiekurven mit max. 1024 points, Stop bei spezif. Endwert, Pause vor und nach der Messung, etc.)
• Lithografie (Strukturen schreiben (Scratching, Oxidation, ...) auf Basis von Vektor- und Bitmap-Grafiken)
• Manipulation (Oxidation, Zerschneiden von Nanopartikel, Bewegen und Anordnen von Nanopartikeln)
• Erweiterung mit Nutzerschnittstelle zum Scripting (AFM kann extern angesteuert werden durch z.B. Visual Basic, Lab View, etc.)
• Set von 2 Proben:
• Probe für Scratching- CD-ROM Stück
• Probe für Manipulation - Glas Nanopartikell (incl. Silica Kolloid)
• Set von 8 Cantilevern:
• 4 x 190TapAl G (Dynamic Force Mode) für Spektroskopie und Manipulation
• 4 x CONTR (Static Force Mode) für Lithografie und Manipualtion
• Beschreibung zur Präparation und Abbildung von Glas Nanopartikeln
• Die Beschreibung zur Lithografie, Manipulation und Nutzerschnittstelle finden sich in der Bedienungsanleitung des AFM (in gedruckter Form als Teil des Gerätes bzw als pdf verlinkt im Software-Paket measure nano (Help Panel). Zusätzlich ist eine separate Beschreibung zum Scripting als pdf verlinkt.
• Beschreibungen in englischer Sprache
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- 00277 02 afm englisch pdf Herunterladen
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Funktion und Verwendung
Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.
Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.
Ausstattung und technische Daten
• Software-Paket / Aktivierungssschlüssel für:
• Strom-Abstands-Spektroskopie
• Fortgeschrittene Spectroscopie (z.B. Spektroskopiekurven mit max. 1024 points, Stop bei spezif. Endwert, Pause vor und nach der Messung, etc.)
• Lithografie (Strukturen schreiben (Scratching, Oxidation, ...) auf Basis von Vektor- und Bitmap-Grafiken)
• Manipulation (Oxidation, Zerschneiden von Nanopartikel, Bewegen und Anordnen von Nanopartikeln)
• Erweiterung mit Nutzerschnittstelle zum Scripting (AFM kann extern angesteuert werden durch z.B. Visual Basic, Lab View, etc.)
• Set von 2 Proben:
• Probe für Scratching- CD-ROM Stück
• Probe für Manipulation - Glas Nanopartikell (incl. Silica Kolloid)
• Set von 8 Cantilevern:
• 4 x 190TapAl G (Dynamic Force Mode) für Spektroskopie und Manipulation
• 4 x CONTR (Static Force Mode) für Lithografie und Manipualtion
• Beschreibung zur Präparation und Abbildung von Glas Nanopartikeln
• Die Beschreibung zur Lithografie, Manipulation und Nutzerschnittstelle finden sich in der Bedienungsanleitung des AFM (in gedruckter Form als Teil des Gerätes bzw als pdf verlinkt im Software-Paket measure nano (Help Panel). Zusätzlich ist eine separate Beschreibung zum Scripting als pdf verlinkt.
• Beschreibungen in englischer Sprache
• Software-Paket / Aktivierungssschlüssel für:
• Strom-Abstands-Spektroskopie
• Fortgeschrittene Spectroscopie (z.B. Spektroskopiekurven mit max. 1024 points, Stop bei spezif. Endwert, Pause vor und nach der Messung, etc.)
• Lithografie (Strukturen schreiben (Scratching, Oxidation, ...) auf Basis von Vektor- und Bitmap-Grafiken)
• Manipulation (Oxidation, Zerschneiden von Nanopartikel, Bewegen und Anordnen von Nanopartikeln)
• Erweiterung mit Nutzerschnittstelle zum Scripting (AFM kann extern angesteuert werden durch z.B. Visual Basic, Lab View, etc.)
• Set von 2 Proben:
• Probe für Scratching- CD-ROM Stück
• Probe für Manipulation - Glas Nanopartikell (incl. Silica Kolloid)
• Set von 8 Cantilevern:
• 4 x 190TapAl G (Dynamic Force Mode) für Spektroskopie und Manipulation
• 4 x CONTR (Static Force Mode) für Lithografie und Manipualtion
• Beschreibung zur Präparation und Abbildung von Glas Nanopartikeln
• Die Beschreibung zur Lithografie, Manipulation und Nutzerschnittstelle finden sich in der Bedienungsanleitung des AFM (in gedruckter Form als Teil des Gerätes bzw als pdf verlinkt im Software-Paket measure nano (Help Panel). Zusätzlich ist eine separate Beschreibung zum Scripting als pdf verlinkt.
• Beschreibungen in englischer Sprache
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