Nanotechnologie
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Atomare Auflösung der Graphitoberfläche mit dem Rastertunnelmikroskop (STM)
Prinzip Zwischen einer sehr feinen metallischen Spitze und einer elektrisch leitenden Probenoberfläche die in einem Abstand von weniger als einem Nanometer angeordnet sind, fließt beim Anlegen einer Spannung ein Strom, der Tunnelstrom, ohne einen mechanischen Kontakt. Dieser Strom wird ausgenutzt um die (elektronische) Topografie einer Graphit-Oberfläche auf der sub-Nanometerskala zu untersuchen. Durch Abrastern der Oberfläche werden Graphit-Atome und deren hexagonale Anordnung abgebildet und analysiert. Vorteile • Hervorragendes Preis-Leistungs-Verhältnis • Auf die Bedürfnisse in der Lehre zugeschnitten • Mikroskop besteht aus einem kompakten, tragbaren Gerät, keine Zusatzgeräte erforderlich • Schwingungsgedämpft für bessere und reproduzierbare Ergebnisse • Sowohl für die Abbildung der atomaren Auflösung als auch für die Spektroskopie geeignet • Zusätzlicher Versuch mit Goldprobe durchführbar • Mit interaktiver Lernsoftware
CHF 23’256.45
Erweiterungspaket Materialanalyse, für compact AFM
Funktion und Verwendung Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.
CHF 3’466.35
Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation, für compact AFM
Funktion und Verwendung Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.
CHF 6’423.90
Grundlagen der Abbildung von Mikro- und Nanostrukturen mit dem Rasterkraftmikroskop (AFM)
Prinzip Beim Annähern einer nanoskopisch kleinen Nadel, die auf einer Blattfeder angebracht ist, entsteht eine Interaktion mit einer zu untersuchenden Oberfläche auf atomarer Ebene. Dabei wird die Blattfeder gebogen, was sich mittels eines Laserstrahls messen lässt. Im Kontaktmodus wird die Biegung verwendet, um die Topographie der Probenoberfläche über eine Rückkopplungsschleife zu untersuchen. Im Nicht-Kontaktmodus lässt man die Blattfeder bei gleicher Frequenz schwingen, was zu einer gedämpften Amplitude nahe der Oberfläche führt. Die Messparameter (Einstellwert, Rückkopplungsverstärkung) spielen eine kritische Rolle hinsichtlich der Bildqualität. Ihr Einfluss auf die Bildqualität wird für verschiedene Nanostrukturproben untersucht. Vorteile • Untersuchung im Kontakt- und Nicht-Kontaktmodus • Zahlreiche Parameter können zur Optimierung der Bildqualität geändert werden • Verschiedene Proben mit verschiedenen Eigenschaften vorhanden • Speziell für das Praktikum konzipiert • Kompaktes und tragbares Gerät, keine zusätzlichen Instrumente erforderlich • Bessere und reproduzierbare Ergebnisse durch spezielle Vibrationsisolierung des Geräts
CHF 55’261.65
PHYWE Compact AFM, Rasterkraftmikroskop
Funktion und Verwendung Kompaktes und einfach zu bedienendes Rasterkraftmikroskop zur Abbildung beliebiger Mikro- und Nanostrukturen. Entwickelt für den Einsatz in der Lehre, im Praktikum, sowie in der Forschungsvorbereitung in Physik, Chemie, Lebenswissenschaften und Ingenieurwissenschaften. Vorteile • Kompaktes "all-in-one" Gerät: einfach zu bedienen, einfach zu transportieren • Komplettlösung: Gerät + Proben + Sonden + Werkzeug + Versuchsbeschreibungen • Automatische Annäherung der Sonden an die Probe zur Vermeidung der Beschädigung von Sonde und Probe • Proben einfach einzusetzen und zu wechseln • Keine Anpassung des Lasers erforderlich • Forschungsnahes Gerät zu einem Drittel des Preises eines Forschungsgeräts
CHF 55’261.65
PHYWE Compact STM, Rastertunnelmikroskop
Funktion und Verwendung Einfach zu bedienendes Rastertunnelmikroskop zur Abbildung und Spektroskopie leitfähiger Proben auf atomarer bzw. molekularer Skala. Geeignet für eine Vielzahl von Experimenten aus Themenfeldern wie Material-Wissenschaften, Festkörperphysik/-chemie, Oberflächenphysik/-chemie, Nanotechnolgie/ Wissenschaften und Quantenmechanik.
CHF 22’929.60
TESS expert Applied Science Handbook AtomicForceMicroscopy - Operating Instructions and Experiments, (in Englisch)
Funktion und Verwendung Handbuch zur Bedienung des Rasterkraftmikroskopes und erster Experimente, mit Schnelleinstieg, Erklärung aller Funktionalitäten der Mess- und Analyse-Software measure nano, insbesondere Abbildung, Charakterisierung und Manipulation auf der Nanoskala. Es enthält viele hilfreiche Tipps und Tricks, Hintergrundinformationen zum Thema und ausführliche Versuchsbeschreibungen mit vielen Hinweisen, Theorie und interpretierten Beispielergebnissen.
CHF 191.10
TESS expert Physics Handbook Scanning Tunneling Microscopy -Operating Instructions and Experiments, (in Englisch)
Funktion und Verwendung Handbuch zur Bedienung des Rastertunnelmikroskopes und erster Experimente, mit Schnelleinstieg, Erklärung aller Funktionalitäten der Mess- und Analyse-Software measure nano, insbesondere Abbildung und Spektroskopie auf der Nanoskala. Es enthält viele hilfreiche Tipps und Tricks, Hintergrundinformationen zum Thema und ausführliche Versuchsbeschreibungen mit vielen Hinweisen, Theorie und interpretierten Beispielergebnissen.
CHF 143.30