Zeigt 1-4 von 4 Produkten 4 Produkte in Nanotechnologie

Erweiterungspaket Materialanalyse, für compact AFM

Funktion und Verwendung Softwarepaket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit Force Modulation, Spreading Resistance und Leitfähigkeitsmessungen speziell für die Materialanalyse. Inklusive Proben und passenden Cantilevern.

CHF 3’466.35

Erweiterungspaket Spektroskopie und Manipulation, für compact AFM

Funktion und Verwendung Software-Paket zur Erweiterung der Messmodi des Rasterkraftmikroskopes (09700-99) mit fortgeschrittener Spektroskopie, Lithographie, Manipulation und Nutzerschnittstelle (Scripting via Visual Basic, LabView, etc.). Inklusive Proben und Cantilevern.

CHF 6’423.90

Grundlagen der Abbildung von Mikro- und Nanostrukturen mit dem Rasterkraftmikroskop (AFM)

Prinzip Beim Annähern einer nanoskopisch kleinen Nadel, die auf einer Blattfeder angebracht ist, entsteht eine Interaktion mit einer zu untersuchenden Oberfläche auf atomarer Ebene. Dabei wird die Blattfeder gebogen, was sich mittels eines Laserstrahls messen lässt. Im Kontaktmodus wird die Biegung verwendet, um die Topographie der Probenoberfläche über eine Rückkopplungsschleife zu untersuchen. Im Nicht-Kontaktmodus lässt man die Blattfeder bei gleicher Frequenz schwingen, was zu einer gedämpften Amplitude nahe der Oberfläche führt. Die Messparameter (Einstellwert, Rückkopplungsverstärkung) spielen eine kritische Rolle hinsichtlich der Bildqualität. Ihr Einfluss auf die Bildqualität wird für verschiedene Nanostrukturproben untersucht. Vorteile • Untersuchung im Kontakt- und Nicht-Kontaktmodus • Zahlreiche Parameter können zur Optimierung der Bildqualität geändert werden • Verschiedene Proben mit verschiedenen Eigenschaften vorhanden • Speziell für das Praktikum konzipiert • Kompaktes und tragbares Gerät, keine zusätzlichen Instrumente erforderlich • Bessere und reproduzierbare Ergebnisse durch spezielle Vibrationsisolierung des Geräts

CHF 55’261.65

PHYWE Compact AFM, Rasterkraftmikroskop

Funktion und Verwendung Kompaktes und einfach zu bedienendes Rasterkraftmikroskop zur Abbildung beliebiger Mikro- und Nanostrukturen. Entwickelt für den Einsatz in der Lehre, im Praktikum, sowie in der Forschungsvorbereitung in Physik, Chemie, Lebenswissenschaften und Ingenieurwissenschaften. Vorteile • Kompaktes "all-in-one" Gerät: einfach zu bedienen, einfach zu transportieren • Komplettlösung: Gerät + Proben + Sonden + Werkzeug + Versuchsbeschreibungen • Automatische Annäherung der Sonden an die Probe zur Vermeidung der Beschädigung von Sonde und Probe • Proben einfach einzusetzen und zu wechseln • Keine Anpassung des Lasers erforderlich • Forschungsnahes Gerät zu einem Drittel des Preises eines Forschungsgeräts

CHF 55’261.65