Cantilever, Kontaktmodus, 10 Stck, für compact AFM
Artikelnummer: 09710-00
CHF 481.40
inkl. MwSt. CHF 520.40
Funktion und Verwendung
Cantilever für Messungen im Kontaktmodus mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).
Cantilever für Messungen im Kontaktmodus mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).
Ausstattung und technische Daten
• Für Messungen im Kontaktmodus
• Material: Si, monolithisch
• Reflexbeschichtung: Aluminium
• Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
• Spitzenradius: kleiner 10nm
• Resonanzfrequenz: 13 kHz
• Federkonstante: 0,2 N/m
• Länge: 0,45mm
• Breite: 0,05mm
• 10 Stück
• Gewicht: 0,04 kg
• Für Messungen im Kontaktmodus
• Material: Si, monolithisch
• Reflexbeschichtung: Aluminium
• Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
• Spitzenradius: kleiner 10nm
• Resonanzfrequenz: 13 kHz
• Federkonstante: 0,2 N/m
• Länge: 0,45mm
• Breite: 0,05mm
• 10 Stück
• Gewicht: 0,04 kg
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Funktion und Verwendung
Cantilever für Messungen im Kontaktmodus mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).
Cantilever für Messungen im Kontaktmodus mit dem Rasterkraftmikroskop (09700-99).
Ausstattung und technische Daten
• Für Messungen im Kontaktmodus
• Material: Si, monolithisch
• Reflexbeschichtung: Aluminium
• Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
• Spitzenradius: kleiner 10nm
• Resonanzfrequenz: 13 kHz
• Federkonstante: 0,2 N/m
• Länge: 0,45mm
• Breite: 0,05mm
• 10 Stück
• Gewicht: 0,04 kg
• Für Messungen im Kontaktmodus
• Material: Si, monolithisch
• Reflexbeschichtung: Aluminium
• Halterung: 3,4 x 1,6 x 0,3 mm, mit Justierrillen
• Spitzenradius: kleiner 10nm
• Resonanzfrequenz: 13 kHz
• Federkonstante: 0,2 N/m
• Länge: 0,45mm
• Breite: 0,05mm
• 10 Stück
• Gewicht: 0,04 kg
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