Röntgenphysik

Untersuchung von Kristallstrukturen: Laue-Verfahren mit digitalem Röntgensensor (XRIS)

Prinzip Laue-Diagramme werden bei Durchstrahlung von Einkristallen mit polychromatischen Röntgenstrahlen erzeugt. Die Methode wird hauptsächlich zur Bestimmung von Kristallsymmetrien und zur Orientierung von Kristallen benutzt. Durchstrahlt man einen LiF-Einkristall mit polychromatischer Röntgenstrahlung erhält man ein charakteristisches Beugungsmuster. Dies wird mit dem digitalen Röntgensensor XRIS fotografiert und ausgewertet. Aufgaben 1. Nehmen Sie das Laue-Diagramm eines LiF-Einkristalls mit Hilfe des digitalen Röntgensensors auf. 2. Ordnen Sie die Laue-Reflexe den verschiedenen Netzebenen des Kristalls zu. Verwandte Themen • Charakteristische Röntgenstrahlung • Bravais-Gitter • Reziproke Gitter • Millersche-Indizes • Atomfaktor • Strukturfaktor • Bragg-Streuung Software inclusive. Computer nicht Teil des Lieferumgangs.

Grundlagen der Auflösung und Detailerfassung

Grundlagen der Computertomographie

Ausrichten der Kamera

Optimierung der Computertomographie Qualität

Strahlhärtung und Metallartefakte

Hounsfield-Einheit

Grundlagen der Strahlenintensität

Computertomographie

Prinzip An einfachen Objekten wird das Prinzip von CT veranschaulicht. Bei sehr einfachen Zielen reichen bereits wenige Aufnahmen, um ein gutes Ergebnis zu bekommen, Je komplizierter die Objekte, desto mehr Aufnahmen sind notwendig um Details aufzulösen. Mittels spezieller Proben wird außerdem gezeigt, wie Artefakte entstehen und was Strahlhärtung hervorruft.

Grundlagen der digitalen Röntgenbildverarbeitung

Grundlagen der Röntgen- strahlenschwächung und kontrast

Energiedispersive Messungen von K-und L-Absorptionskanten

Prinzip Dünne Pulverproben werden mit polychromatischer Röntgenstrahlung durchstrahlt. Die Energieanalyse der durchgelassenen Strahlung erfolgt mit Hilfe eines Halbleiterdetektors und eines nachgeschalteten Vielkanalanalysators. Die Energieder entsprechenden Absorptionskanten wird bestimmt. Aus den resultierenden Moseley-Diagrammen werden Rydbergfrequenz, Abschirmkonstante sowie Hauptquantenzahlen ermittelt.